Перелік галузевих нормативних документів ОСТ 11 073.037 Микросхемы интегральные полупроводниковые серии К172, К178. Руководство по применению 31.200 ОСТ 11 073.040-82 Микросхемы интегральные.
ОСТ 11 073.062-2001. База данных Государственных и Отраслевых стандартов.
Руководство по применению. Общие положения 31.200 ОСТ 11 073.056-76 Приборы полупроводниковые. Методы контроля дрейфа (нестабильности) параметров 31.080 ОСТ 11 073.063-84 Микросхемы интегральные.
- ОСТ 4.000.013-88. ОСТ 42-21-11-81: Система стандартов безопасности труда. ОСТ 4 Г0.073.203-79.
- Извещение об изменении ОСТ В 11 0998 подготовлено в связи. Допускается время приведения ЭТТ определять по методу 800-3 ОСТ 11 073.
- О несовершенстве существующих стандартов оценки прочности соединения кристалла с корпусом отмечается также в работе [18]. Таблица 11.1 Зависимость минимально-допустимого усилия сдвига от площади кристалла (ОСТ 11 073.013-2008). Площадь кристалла, мм2.
Выбор и определение допустимых значений параметров воздействующих технологических факторов при производстве радиоэлектронной аппаратуры на интегральных микросхемах 31.200 ОСТ 11 073.073-82 Контроль неразрушающий. Методы контроля температуры биполярных транзисторов и интегральных микросхем 31.020 ОСТ 11 073.917.13-83 Микросхемы интегральные.
Метод измерения эффективного значения напряжения шума операционных усилителей 31.200 ОСТ 11 073.920-84 Микросхемы интегральные бескорпусные. Общие технические условия 31.200 ОСТ 11 073.944-83 Микросхемы интегральные цифровые. Общие методы и алгоритмы контроля электрических параметров 31.200 ОСТ 11 073.948.0-84 - ОСТ 11 073.948.3-84 Микросхемы интегральные аналоговые. Перемножители сигналов.
Общие требования при измерении электрических параметров 31.200 ОСТ 11 074.001-77 Трансформаторы питания однофазные низковольтные и дроссели фильтров выпрямителей. Руководство по применению 29.180 ОСТ 11 078.003-82 Отливки из цветных металлов и сплавов.
Технические условия 77.150.01 ОСТ 11 078.005-78 Оборудование для производства изделий электронной техники. Отливки из цветных сплавов. Общие технические условия 31.020 ОСТ 11 091.034-83 Оценка уровня качества материалов электронной техники 31.020 ОСТ 11 091.067-73 Изделия электронной техники. Методика анализа требований к внешнему виду изделий 31.020 ОСТ 11 091.135-77 Организация службы по механизации погрузочно-разгрузочных и транспортно-складских работ 31.020 ОСТ 11 091.165-77 Классификация затрат на качество изделий электронной техники на стадии производства 31.020 ОСТ 11 091.171-77 Оборудование для производства изделий электронной техники.
Ост 11 073.013 Скачать
Определение эргономических и эстетических показателей качества 31.020 ОСТ 11 091.481-82 Контрольные образцы и меры параметров. Общие требования и правила применения 31.020 ОСТ 11 091.483-83 Контроль правильности применения изделий электронной техники в бытовой радиоэлектронной аппаратуре 31.020 ОСТ 11 091.601-79 Микросхемы интегральные. Методика анализа технологического процесса при разработке систем статистического регулирования 31.200 ОСТ 11 094.022-72 Ситталы. Марки 31.020 ОСТ 11 094.025-73 Контроль неразрушающий.
Метод определения пористости покрытий с помощью индикаторных паст 31.020 ОСТ 11 094.031-77 Изделия из электровакуумного стекла 31.020 ОСТ 11 094.039-79 Изделия электронной техники. Методы ускоренной оценки гамма-процентного ресурса 31.020 ОСТ 11 2.0001-84 Изделия электронной техники. Эксплуатационные документы 31.020 ОСТ 11 8.0017-88 ОСОЕИ. Организация и порядок проведения метрологической аттестации и поверки средств измерений 31.020 ОСТ 11 9.9901-85 Покрытия металлические и неметаллические. Техпроцесс получения покрытий 25.220 ОСТ -87 Литье под давлением термопластов с окрашиванием суперконцентратами пигментов. Типовой технологический процесс 31.020 ОСТ -87 Товары культурно-бытового назначения. Типовые технологические процессы нанесения лакокрасочных защитно-декоративных покрытий 31.020 ОСТ -87 Приборы электровакуумные.
Типовой технологический процесс пайки металлических соединений 31.020 ОСТ -87 Изделия электронной техники. Типовой технологический процесс магнитно-импульсной сборки 31.020 ОСТ -88 Товары культурно-бытового назначения. Типовой технологический процесс электрохимического окрашивания поверхностей из алюминия 31.020 ОСТ -85 Радиодетали.
Типовые технологические процессы нанесения защитных покрытий на проволоку для выводов 31.020 ОСТ -86 Изделия электронной техники. Технологический процесс лазерной сварки 31.020 ОСТ.0-87 - ОСТ.1-87 Оснастка технологическая. Патроны цанговые и цанги зажимные. Технические условия 25.060.20 ОСТ -87 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые.
Технологические требования к технологическому процессу литографии 31.200 ОСТ -85 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Дифракционный метод контроля линейных размеров тестовых элементов рисунка фотошаблонов и полупроводниковых пластин 31.200 ОСТ -87 Система управления качеством продукции. Оценка уровня качества изготовления изделий электронной техники 31.020 ОСТ -85 Система управления качеством продукции.
Аттестация технологических процессов производства 31.020 ОСТ -89 Аттестация производства предприятий-изготовителей изделий и материалов электронной техники 31.020 ОСТ -86 Микросхемы интегральные. Система и методы операционного контроля в процессе производства. Технологические требования к технологическому процессу при аттестации производства 31.200 ОСТ -87 Микросхемы интегральные.
Аттестация производства. Требования к элементам производства и порядку его аттестации 31.200 ОСТ.0-85 – ОСТ.8-85 Инструмент для микросварки и микропайки 31.020 ОСТ -85 Круги отрезные алмазные бескорпусные. Технические условия 31.020 ОСТ -86 Шаблоны рабочие. Технические условия 31.020 ОСТ 11 223.700-83 Модули СВЧ интегральные. Габаритные, установочные и присоединительные размеры 31.200 ОСТ 11 223.701-81 Модули СВЧ интегральные.
Конструкции составных частей 31.200 ОСТ 11 223.703-80 Модули СВЧ интегральные. Порядок проведения анализа причин отказов 31.200 ОСТ 11 223.705-81 Модули СВЧ. Руководство по применению 31.200 ОСТ 11 283.002-81 Ротаметры для деионизованной воды. Технические условия 31.020 ОСТ 11 293.031-81 Системы вакуумные. Методы контроля герметичности 31.020 ОСТ 11 296.011-83 Фильтры для очистки воздуха от пыли. Типы и основные параметры. Конструкция и размеры 23.120 ОСТ 11 296.012-80 Блоки обеспыливания.
Конструкция и размеры 23.120 ОСТ 11 296.014-80 Вентиляторы для контрольно-измерительного оборудования и аппаратуры 23.120 ОСТ 11 296.020-78 Насосы для агрессивных сред центробежные 23.080 ОСТ 11 296.022-78 Фильтры для очистки воздуха от пыли. Методы испытаний 23.120 ОСТ 11 296.024-84 Насосы для агрессивных сред с магнитной муфтой. Технические условия 23.080 ОСТ 11 305.903-80 Микропроцессорные средства вычислительной техники. Технические средства. Интерфейс межмодульный.
Ост 11 073.013-83
Техническое описание 35.160 ОСТ 11 305.909-82 Микропроцессорные средства вычислительной техники. Программное обеспечение. Система команд ряда микро-ЭВМ, совместных с СМ ЭВМ 35.160 ОСТ 11 305.918-83 Микропроцессорные средства вычислительной техники. Общие технические условия 35.160 ОСТ 11 330.000-74 Лампы приемо-усилительные.
Руководство по применению 31.100 ОСТ 11 331.000-73 Лампы генераторные мощные. Руководство по применению 31.100 ОСТ 11 331.001-74 Лампы генераторные с мощностью, рассеиваемой анодом, от 25 Вт до 1 кВт.
Руководство по применению 31.100 ОСТ 11 331.004-75 Лампы генераторные металлокерамические и титано-керамические. Руководство по применению 31.100 ОСТ 11 332.002-73 Тиристоры малой и средней мощности.
Ост 11 073.013-2008
Руководство по применению 31.080.20 ОСТ 11 332.006-82 Клистроны отражательные. Руководство по применению 31.100 ОСТ 11 332.007-82 Клистроны пролетные. Руководство по применению 31.100 ОСТ 11 332.008-82 Устройства защитные 31.100 ОСТ 11 332.009-73 Магнетроны импульсные. Руководство по применению 31.100 ОСТ 11 332.011-82 Лампы обратной волны.
Руководство по применению 31.100 ОСТ 11 332.015-76 Приборы электронные СВЧ. Защитные устройства. Методы измерения электрических параметров 31.100 ОСТ 11 332.037-81 Клистроны отражательные и пролетные генераторные. Методы измерения электрических параметров 31.100 ОСТ 11 332.039-76 Модули СВЧ. Метод измерения сосредоточенных пассивных реактивных элементов в диапазоне от 1 до 10 ГГц 31.020 ОСТ 11 332.042-82 Приборы СВЧ. Методы испытаний на циклическое включение напряжение напряжения накала 31.020 ОСТ 11 332.054-78 Модули СВЧ. Блоки сверхвысокочастотные.
Методы измерения электрических параметров 31.020 ОСТ 11 332.055-81 Модули СВЧ. Методы измерения электрических параметров 31.020 ОСТ 11 332.702-83 Детали металлические приборов СВЧ. Технические требования 31.240 ОСТ 11 332.704-79 Модули СВЧ управляющие. Методы измерения электрических параметров 31.020 ОСТ 11 332.710-81 Модули СВЧ.
Методы измерения электрических параметров 31.020 ОСТ 11 334.001-77 Газотроны импульсные. Руководство по применению 31.100 ОСТ 11 334.005-75 Газотроны и тиратроны с накаленным катодом. Руководство по применению 31.100 ОСТ 11 334.006-75 Тиратроны тлеющего разряда.
Руководство по применению 31.100 ОСТ 11 335.004-74 Кинескопы для черно-белого телевизора. Технические условия 31.120.
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам испытаний интегральных схем (ИС) на коррозионную стойкость. Сущность: перед испытанием ИС проводят проверку внешнего вида, электрических параметров и проверку герметичности, нагревают до температуры плюс 125°С со скоростью не более 100°С/мин, выдерживают при этой температуре 1 ч, резко охлаждают до минус 55°С со скоростью не более 100°С/мин, выдерживают при данной температуре 0,5 ч, плавно нагревают до плюс 2°С в течение 1 ч.
И выдерживают в течение 0,5 ч. Проводят не менее 16 непрерывно следующих друг за другом циклов по 3 ч каждый. Технический результат: повышение объективности оценки наличия влаги внутри корпуса ИС.
Рисунки к патенту РФ 2527669 Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам испытаний интегральных схем (ИС) на коррозионную стойкость вместо испытаний по контролю содержания паров воды внутри корпусов с помощью масс-спектрометра на заводах-изготовителях ИС. Из техники известно, что даже в нормальных условиях при длительном хранении (как правило, от шести месяцев до нескольких лет) в отдельных схемах появляются отказы, связанные с разрушением алюминиевой металлизации на кристалле (коррозия) из-за появления загрязнения и влаги внутри корпуса. Известен способ неразрушающего определения содержания влаги в подкорпусном объеме ИС Патент РФ № 2263369, H01L 81/66, G01R 3/18, опубл. , по которому испытуемые ИС охлаждают от комнатной температуры до минус 65°С со скоростью не более 10°С в минуту, затем с той же скоростью нагревают до исходной температуры, при этом непрерывно при охлаждении и последующем нагревании измеряют влагочувствительный параметр и определяют точку росы в подкорпусном объеме газа. Рассчитывается давление газа в корпусе ИС при температуре точки росы и по номограмме определяется концентрация влаги в подкорпусном объеме газа. Недостатком способа является недостаточная точность определения концентрации влаги.
Изобретение направлено на повышение объективности оценки наличия влаги внутри корпусов ИС.